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Das Palettensystem ZEISS OMEGA ist für die optischen Messgeräte ZEISS O-INSPECT, O-DETECT und O-SELECT konzipiert. Erhältlich sind Paletten mit glatter Oberfläche, solche aus Glas, die sich für Durchlichtmessungen eignen, oder schwarz eloxierte Paletten mit Bohrrastern, geeignet für eigene Konstruktionen bei unterschiedlichen Gewindegrößen.
Produktart
Messgerät
OMEGA 543 Raster M4 15x15 mm
626109-9512-032
1.245,00 €zzgl. USt.
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Rasterpalette OMEGA 543, Aluminium, M4 x 15x15, mit TSI
626109-9512-037
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Rasterpalette OMEGA 322, Aluminium, M4 x 15x15
626109-9510-032
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OMEGA 322 Raster M4 25x25, ohne Aussparung
626109-9510-033
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Rasterpalette OMEGA 543, Aluminium, M4 x 25x25
626109-9512-031
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Rasterpalette OMEGA 322, Aluminium, M4 x 25x25
626109-9510-031
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Rasterpalette OMEGA 543, comfort, M4 x 25x25
626109-9512-041
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Rasterpalette OMEGA 543, Aluminium, M4 x 25x25, mit TSI
626109-9512-036
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Leiste zur Befestigung Kalibriernormal für ZEISS O-INSPECT 322
626109-9510-100
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Kalibrierpalette OMEGA 322, Aluminium
626109-9510-000
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