Optisch

Das Palettensystem ZEISS OMEGA ist für die optischen Messgeräte ZEISS O-INSPECT, O-DETECT und O-SELECT konzipiert. Erhältlich sind Paletten mit glatter Oberfläche, solche aus Glas, die sich für Durchlichtmessungen eignen, oder schwarz eloxierte Paletten mit Bohrrastern, geeignet für eigene Konstruktionen bei unterschiedlichen Gewindegrößen.

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626161-0006-990
Länge (L)
50,0 mm
492,00 €zzgl. USt.
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626109-9520-022
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626109-9520-020
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