Optisch (45)

Das Palettensystem ZEISS OMEGA ist für die optischen Messgeräte ZEISS O-INSPECT, O-DETECT und O-SELECT konzipiert. Erhältlich sind Paletten mit glatter Oberfläche, solche aus Glas, die sich für Durchlichtmessungen eignen, oder schwarz eloxierte Paletten mit Bohrrastern, geeignet für eigene Konstruktionen bei unterschiedlichen Gewindegrößen.
OMEGA 442 Rahmen, Plexiglas
626109-9520-022
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