- Paletten und Rasterplatten
- Optisch
- OMEGA 322(16)
- OMEGA 442(3)
- OMEGA 543(23)
- OMEGA 863(2)
- OMEGA Select(2)
- Taktil(22)
- Tomografisch(8)
- Rasterplatten(47)
Optisch
Das Palettensystem ZEISS OMEGA ist für die optischen Messgeräte ZEISS O-INSPECT, O-DETECT und O-SELECT konzipiert. Erhältlich sind Paletten mit glatter Oberfläche, solche aus Glas, die sich für Durchlichtmessungen eignen, oder schwarz eloxierte Paletten mit Bohrrastern, geeignet für eigene Konstruktionen bei unterschiedlichen Gewindegrößen.
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