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Optisch-taktile KMG
Das Palettensystem ZEISS OMEGA ist für die optisch-taktilen Messgeräte ZEISS O-INSPECT, O-DETECT und O-SELECT konzipiert. Erhältlich sind Paletten mit glatter Oberfläche, solche aus Glas, die sich für Durchlichtmessungen eignen, oder schwarz eloxierte Paletten mit Bohrrastern, geeignet für eigene Konstruktionen bei unterschiedlichen Gewindegrößen.
Leiste zur Befestigung Kalibriernormal für ZEISS O-INSPECT 322
626109-9510-100
549,10 €zzgl. USt.
Auf Bestellung hergestellt
Platte zu Befestigung Kalibriernormal für ZEISS O-INSPECT 863
626109-9515-004
784,10 €zzgl. USt.
Auf Bestellung hergestellt
Leiste zu Befestigung Kalibriernormal für ZEISS O-INSPECT 543
626109-9512-100
670,00 €zzgl. USt.
Auf Bestellung hergestellt
Rasterpalette OMEGA 543, comfort, M4 x 25x25
626109-9512-041
2.078,10 €zzgl. USt.
Auf Bestellung hergestellt
1.784,20 €zzgl. USt.
Verfügbar
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