Optisch (46)

Das Palettensystem ZEISS OMEGA ist für die optischen Messgeräte ZEISS O-INSPECT, O-DETECT und O-SELECT konzipiert. Erhältlich sind Paletten mit glatter Oberfläche, solche aus Glas, die sich für Durchlichtmessungen eignen, oder schwarz eloxierte Paletten mit Bohrrastern, geeignet für eigene Konstruktionen bei unterschiedlichen Gewindegrößen.
Niveauerhöhung für OMEGA Paletten
626161-0006-990
Länge (L)
50,0 mm
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OMEGA 442 Rahmen, Plexiglas
626109-9520-022
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OMEGA 442 Rahmen, Klarglas
626109-9520-020
945,00 €zzgl. USt.
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