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Optisch-taktile KMG
Das Palettensystem ZEISS OMEGA ist für die optisch-taktilen Messgeräte ZEISS O-INSPECT, O-DETECT und O-SELECT konzipiert. Erhältlich sind Paletten mit glatter Oberfläche, solche aus Glas, die sich für Durchlichtmessungen eignen, oder schwarz eloxierte Paletten mit Bohrrastern, geeignet für eigene Konstruktionen bei unterschiedlichen Gewindegrößen.
Rasterpalette OMEGA 322, Aluminium, M4 x 15x15
626109-9510-032
908,10 €zzgl. USt.
Längere Lieferzeit
Rahmenpalette OMEGA 322, Aluminium + Mattglas
626109-9510-021
835,10 €zzgl. USt.
Auf Bestellung hergestellt
Basispalette OMEGA 543, Aluminium, ohne Bohrraster, mit TSI
626109-9512-035
966,00 €zzgl. USt.
Auf Bestellung hergestellt
Rasterpalette OMEGA 543, Aluminium, M4 x 25x25, mit TSI
626109-9512-036
1.465,10 €zzgl. USt.
Auf Bestellung hergestellt
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