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Palettensysteme und Rasterplatten

Mit Paletten können Werkstücke bereits abseits des Messgeräts und im Voraus der Messung aufgespannt werden. Innerhalb weniger Sekunden können die bestückten Paletten dann auf dem Messgerät ausgerichtet werden – ohne erneut eingemessen zu werden. Wir bieten drei verschiedene Palettensysteme für unterschiedliche Gerätetypen an. Das Palettensystem ZEISS THETA ist geeignet für die taktilen Koordinatenmessgeräte ZEISS CONTURA, ACCURA, PRISMO und XENOS sowie DuraMax, CenterMax und GageMax. Das Palletensystem ZEISS OMEGA wird bei optischen Messgeräten wie ZEISS O-INSPECT oder O-SELECT verwendet. Das Palettensystem ZEISS GAMMA wurde für das CT-Messgerät ZEISS METROTOM konzipiert.